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掃描型紫外可見分光光度計佑科UV756

產品型號：

UV756

品牌：

佑科

≧1 臺
￥12000.00

所在地：

浙江寧波寧波市

更新日期：

2025-03-21

詳細信息

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	品牌：佑科		加工定制：否		型號：UV756
	波長范圍：190-1100nm nm		加工定制：否		型號：UV756

掃描型紫外可見分光光度計佑科UV756

一、掃描型紫外可見分光光度計佑科UV756可根據設置波長自動保存樶新波長，比普通同類產品相比增加了測量的穩定性。可測量光程為100mm，能夠保存200條校準曲線。可根據標準模式或輸入標準模式建立定量分析方式，還可選擇安裝與電腦連接的軟件裝置。

二、掃描型紫外可見分光光度計佑科UV756產品特點：
1.采用1200條/mm高性能光柵。新型的光源控制系統，使儀器光源切換更快速。
2.精確的2nm帶寬，使測試數據更準確。使用進口長壽命光源，減輕用戶耗材的消耗。
3.特有的波長控制系統，使波長精度更高。改良的光學系統，使測試更準確。
4.采用進口的光電轉換器，使儀器的靈敏度更高。
5.新型的微電腦數據處理系統。使儀器的使用更加便捷，穩定性也更好。
6.儀器采用126×64位點陣液晶顯示器，可直接顯示標準曲線和測試數據，主機可儲存測試數據，并可選配打印機。
7.儀器可選配獲得國家專利的圓盤旋轉式自動八連樣品架，可靠性好，光斑居中（相比雙排自動八聯架），從而儀器測光精度高。（專利號：ZL 2010 2 0562307.8）。

三、掃描型紫外可見分光光度計佑科UV756與UV759參數對比：

產品型號	UV756(UV756CRT)	UV759(UV759CRT)
波長范圍	190-1100nm	190-1100nm
波長準確度	±0.5nm	±0.3nm
波長重復性	0.2nm	0.1nm
光譜帶寬	2nm	1.8nm
透射比準確率	±0.5%T	±0.3%T
透射比重復性	0.2%T	0.1%T
基線平直度	0.001A/h	0.001A/h
光度范圍	-3-3A，0-200%T，0-9999C	-3-3A，0-200%T，0-9999C
雜散光	0.05%T@220nm/360nm	0.05%T@220nm/360nm
穩定性	±0.001A/h@500nm	±0.001A/h@500nm
顯示方式	128×64位點陣液晶顯示	128×64位點陣液晶顯示
RS232通訊	USB接口	USB接口
打印機	選配	選配
分析軟件	支持	支持
自動八聯比色池	選配	選配
光學系統	雙光束比例監測	雙光束比例監測
噪聲水平	±0.001A/2min@500nm	±0.001A/2min@500nm

掃描型紫外可見分光光度計佑科UV756

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