奧美加激光測(cè)徑儀的測(cè)量原理

奧美加激光測(cè)徑儀采用進(jìn)口高速微型馬達(dá)（高掃描頻率）、軍-工-級(jí)制程激光器（高準(zhǔn)直性）、*新的非球面光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)與加工、優(yōu)化特定的邊緣檢測(cè)算法。測(cè)徑儀掃描頻率樶高可達(dá)2400Times/S(單軸)，能精準(zhǔn)識(shí)別被測(cè)物邊緣，保證在一個(gè)測(cè)量周期內(nèi)得到更多的被測(cè)物單個(gè)掃描值，高精度單周期精確數(shù)據(jù)采集能真實(shí)反應(yīng)其尺寸變化和表面缺陷，能在很小的掃描間距內(nèi)檢出產(chǎn)品表面的粒子、漆瘤、氣泡、砂眼等，當(dāng)缺陷的尺寸大于*小檢測(cè)間距時(shí)能被準(zhǔn)確檢出;尤其在扁平物測(cè)量方面，結(jié)合優(yōu)化邊緣算法，更能真實(shí)檢測(cè)出其寬度和厚度，這是傳統(tǒng)測(cè)量方法或低掃。

奧美加激光測(cè)徑儀的測(cè)量原理：從半導(dǎo)體激光器發(fā)出的激光光束被一個(gè)多面鏡和一個(gè)平面鏡反射。光束穿過一個(gè)準(zhǔn)直F (θ)透鏡。掃描目標(biāo)物后，光束通過接收器透鏡匯聚并轉(zhuǎn)換成一個(gè)與接收光強(qiáng)度成正比的電子信號(hào)，根據(jù)光束被目標(biāo)物遮斷形成陰影的時(shí)間來計(jì)算目標(biāo)物尺寸。采用32位DSP、32位MCU微處理器芯片，保證了數(shù)據(jù)的計(jì)算與輸出能力。專用的測(cè)量算法配合高精密硬件，可保證測(cè)徑儀長(zhǎng)期使用后數(shù)據(jù)的穩(wěn)定住與準(zhǔn)確性。

奧美加激光測(cè)徑儀的測(cè)量原理下的測(cè)量方法主要有：?jiǎn)屋S測(cè)量、雙軸測(cè)量、四軸測(cè)量等，主要應(yīng)用于直徑檢測(cè)、寬度檢測(cè)、厚度檢測(cè)、凹凸缺陷檢測(cè)、橢圓度檢測(cè)、跳動(dòng)檢測(cè)。